该项研究由上海科技大学,牛津大学,中科院物理所与兰州大学合作完成,上科大为第一完成单位。上科大物质学院2021级博士研究生刘馨琪、信息学院2021级硕士研究生黄浦阳、物质学院2020届博士毕业生夏云悠悠为文章共同第一作者,上科大拓扑物理实验室寇煦丰教授、李刚教授、姚岐副研究员为文章共同通讯作者。
文章标题:
Wafer-scale epitaxial growth of the thickness-controllable van der Waals ferromagnet CrTe2 for reliable magnetic memory applications
文章链接:
https://doi.org/10.1002/adfm.202304454